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鏡片膜層厚度測量儀

簡要描述:鏡片膜層厚度測量儀GB及ISO標準測量鏡片減反射膜反射率,傳統方案采用鏡片單面磨砂涂黑方案,用于減少基材及鏡片第二表面反射。過程繁瑣及存在客觀操作。iR-5采用共焦方案極短的焦深支持樣品直接表面反射率測量而不受其他界面反射光線影響。實現非接觸無破壞檢測。

  • 產品型號:iR-5
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-03-27
  • 訪  問  量:317

詳細介紹

品牌其他品牌應用領域電子

鏡片膜層厚度測量儀波長范圍:380nm ~850nm

反射比探測設計:全光譜光纖共焦(鏡片反比測試無需磨砂涂黑操作)

反射比測定方法:標準物質對比計算絕對反射比

物鏡:10倍平場物鏡

入射角度:入射角度0~8°

反射比范圍:0~100%

光譜分辨率:1nm(常規眼鏡反射比計算5nm采樣)

波長準確度:±0.5nm

積分測量時間:≤1.5秒

反射比示值:≤±1%(0~100%)

反射比重復性:≤0.5%

測量光斑尺寸:50μm

被檢樣品曲率:-1R ~-oo、+1R~00

攝像頭:黑白工業攝像頭

觀察及對焦方式:CCD攝像頭采集對焦光斑,直接觀測光斑形態對焦。

反射測試光源:鹵素燈5V10VA(壽命10000小時)

電壓功率:AC 220V輸入10VA

FILM透射比軟件標配功能:

顯示圖表:光譜能量圖、反射曲線圖、計算方法圖、理論對比圖

圖表分度線:可任意設置XY顯示坐標

膜厚計算方法:自動判斷選擇、傅里葉FFT計算、極值法計算、擬合計算

物質材料庫:可自行添加標準物質。(個別材料種類需要聯系廠家進行添加)

評估數值:R2根系數、評估方差值

計算方法閾值:可自定義評估計算方法的閾值,及評估系數超差報警閾值

波長處理:自定義計算的波段及間隔波長(僅在IR-5波段范圍內設置)

曲線顯示設置:擬合使用歸一顯示及是否顯示反射率絕對值

精確度:0.2nm

膜厚準確度:2nm或0.4%

重復性:0.15nm

膜厚測量范圍:50nm~75μm(0.05~75μm)




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